一种钴基合金的定量荧光分析方法

摘要

本发明涉及一种分析方法，具体涉及一种钴基合金的定量荧光分析方法。本发明的技术方案为，包括如下步骤：(1)测量钴基合金标样，绘制综合标准曲线；(2)确定荧光光谱仪的最佳测量参数,确定钴基合金的综合测量参数；(3)分析所述综合标准曲线，确定元素特征X射线强度与其元素含量的线性关系；(4)设定钴基合金虚拟合成标样中各元素的含量；(5)绘制单元素虚拟工作曲线；(6)利用单元素虚拟工作曲线测出待测钴基合金中各个元素的含量。本发明的一种钴基合金的定量荧光分析方法，解除了荧光光谱法对同牌号钴基合金标准物质的依赖，解决了新牌号钴基合金化学成分的定量问题，实现了未知牌号钴基合金的牌号鉴别。

主权项

一种钴基合金的定量荧光分析方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：(1)测量钴基合金标样，绘制综合标准曲线；(2)确定荧光光谱仪的最佳测量参数,对系列标准物质的试样进行激发，寻找每个钴基牌号的较佳激发电压、激发电流、激发角度、脉冲范围及背景校正，优化每个牌号各种测量参数，确定钴基合金的综合测量参数；(3)分析所述综合标准曲线，找出元素间的相互干扰，并对每个元素进行基体校正，确定元素特征X射线强度与其元素含量的线性关系；(4)设定钴基合金虚拟合成标样中各元素的含量；(5)绘制单元素虚拟工作曲线；(6)利用单元素虚拟工作曲线测出待测钴基合金中各个元素的含量。