发明名称 具回授测试功能之探针模组
摘要 具回授测试功能之探针模组,系设于一印刷电路板及一待测电子装置间,包括一基板、一针座、二探针、二路径转换元件及一电容。该基板具有二连接线路及二空间转换线路,且空间转换线路之一端与该印刷电路板电性连接;该针座设于该基板与该待测电子装置间;该二探针设于该针座上,且一端凸伸出该针座外与该基板之该连接线路连接,另一端则凸伸出该针座外点触该待测电子装置;该二路径转换元件设于该针座,且各别电性连接该基板之各该空间转换线路及各该连接线路之另一端;该电容设于该针座上,且两端分别电性连接该二路径转换元件。
申请公布号 TWI529395 申请公布日期 2016.04.11
申请号 TW103123676 申请日期 2014.07.09
申请人 旺矽科技股份有限公司 发明人 顾伟正;赖俊良;周光中;黄展宏
分类号 G01R1/067(2006.01);G01R1/20(2006.01);G01R31/02(2006.01) 主分类号 G01R1/067(2006.01)
代理机构 代理人 廖钲达
主权项 一种具回授测试功能之探针模组,系设于一印刷电路板以及一待测电子装置之间,且包括有:一基板,具有二连接线路以及二空间转换线路,且该等空间转换线路之一端与该印刷电路板电性连接;二探针,各该探针一端凸与该基板之各该连接线路的一端电性连接,而另一端则点触该待测电子装置之受测部位;二路径转换元件,设于该基板,且各该路径转换元件电性连接该基板之各该空间转换线路及各该连接线路之另一端;及一电容,设于该基板,且其两端分别电性连接该二路径转换元件。
地址 新竹县竹北市中和街155号1至3楼