发明名称 |
診断装置及び方法 |
摘要 |
単色光源、前記光源から試験部位へ光を透過させるための透過手段、前記試験部位からの散乱光を透過させるための集光手段、および前記集光手段からの光を受光するためのスペクトル解析装置を備え、前記スペクトル解析装置は、第一の格子要素および第二の格子要素を有する回折格子を備え、当該第一の格子要素は第一の波長範囲内の光を回折させ、かつ、当該第二の格子要素は第二の波長範囲内の光を回折させることを特徴とし、および前記スペクトル解析装置は、さらに光検知装置を備え、前記第一の格子要素は前記光検知装置の第一の領域に光を回折させるように構成され、かつ、前記第二の格子要素は前記光検知装置の第二の領域に光を回折させるように構成されることを特徴とする、診断装置。 |
申请公布号 |
JP2016510245(A) |
申请公布日期 |
2016.04.07 |
申请号 |
JP20150557975 |
申请日期 |
2014.02.19 |
申请人 |
ナショナル ユニヴァーシティー オブ シンガポール |
发明人 |
ジーウェイ・フアン;マッツ・シルヴェスト・バーグホルト;ウェイ・ジェン;ケック・ユー・ホー |
分类号 |
A61B1/00;A61B10/00;G01N21/27;G01N21/65 |
主分类号 |
A61B1/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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