发明名称 一种量子探测效率测量方法
摘要 一种量子探测效率测量方法,用于医用电气设备数字X射线成像装置,该方法包括调制传递函数的测量步骤和噪声功率谱的测量步骤。在测量调制传递函数时,采用刃边法来测量,计算测量参数时,刃边与成像装置像素的夹角采用灰度分割的方法将图像二值化,然后采用提取边界的方法找到二值化图像的边界,最后采用线性拟合的方法来获取刃边与图像像素之间的夹角。采用此方法误差小,稳定性好,并且受刃边平整度的影响较小。
申请公布号 CN105468889A 申请公布日期 2016.04.06
申请号 CN201410794708.9 申请日期 2014.12.19
申请人 北京市医疗器械检验所 发明人 付国涛;张新;王培臣;孙京昇;刘毅
分类号 G06F19/00(2011.01)I;G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06F19/00(2011.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种量子探测效率的测量方法,包括:对采集到的图像进行线性化的步骤;调制传递函数的测量步骤;噪声功率谱的测量步骤;以及量子探测效率的计算步骤。
地址 101111 北京市通州区光机电一体化产业基地兴光二街7号