发明名称 |
一种量子探测效率测量方法 |
摘要 |
一种量子探测效率测量方法,用于医用电气设备数字X射线成像装置,该方法包括调制传递函数的测量步骤和噪声功率谱的测量步骤。在测量调制传递函数时,采用刃边法来测量,计算测量参数时,刃边与成像装置像素的夹角采用灰度分割的方法将图像二值化,然后采用提取边界的方法找到二值化图像的边界,最后采用线性拟合的方法来获取刃边与图像像素之间的夹角。采用此方法误差小,稳定性好,并且受刃边平整度的影响较小。 |
申请公布号 |
CN105468889A |
申请公布日期 |
2016.04.06 |
申请号 |
CN201410794708.9 |
申请日期 |
2014.12.19 |
申请人 |
北京市医疗器械检验所 |
发明人 |
付国涛;张新;王培臣;孙京昇;刘毅 |
分类号 |
G06F19/00(2011.01)I;G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06F19/00(2011.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种量子探测效率的测量方法,包括:对采集到的图像进行线性化的步骤;调制传递函数的测量步骤;噪声功率谱的测量步骤;以及量子探测效率的计算步骤。 |
地址 |
101111 北京市通州区光机电一体化产业基地兴光二街7号 |