发明名称 | 无创的突触可塑性检测方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种无创的突触可塑性检测方法,通过采用单脉冲TMS刺激待检测脑部区域,并由脑电信号采集装置收集TMS刺激后的神经元反应信号,而后对该神经元反应信号进行还原处理,得到脑地形图,显示出突触可塑性变化情况;从而既克服了现有技术中采取有创性检测导致阻碍人脑突触可塑性研究的问题,又克服了现有技术条件下仅能在如皮质等表浅脑区进行研究,导致在一定程度上制约了临床研究的开展,进而推动了人脑突触可塑性研究,进一步的能够广泛应用于临床检验,为医疗诊治提供必要的客观依据。 | ||
申请公布号 | CN105455807A | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
申请号 | CN201410444442.5 | 申请日期 | 2014.09.03 |
申请人 | 上海市精神卫生中心 | 发明人 | 张晨;方贻儒 |
分类号 | A61B5/0484(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/0484(2006.01)I |
代理机构 | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人 | 冯子玲 |
主权项 | 一种无创的突触可塑性检测方法,其特征在于,包括:将磁刺激发射装置的单脉冲TMS设置为靶脑区簇神经元的刺激模式;将所述磁刺激发射装置固定于待检测脑部区域的皮质处,以使得所述单脉冲TMS对待检测脑部区域进行TMS刺激;采用脑电信号采集装置收集TMS刺激后的神经元反应信号并将所述神经元反应信号传输至计算机;对所述神经元反应信号进行还原处理,得到脑地形图以显示突触可塑性变化情况。 | ||
地址 | 200071 上海市徐汇区宛平南路600号 |