| 发明名称 | 通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其中包括一个Z向升降机构，及安装在Z向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构，该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。因此，本发明的裸芯粒微调测试座装置在高速测试过程中通过旋转调整测试针与裸芯粒的测试位置，提高测试定位精度，减少由于定位精度而造成的测试偏差，影响分选测试准确性和效率。 | ||
| 申请公布号 | CN105469982A | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
| 申请号 | CN201610015866.9 | 申请日期 | 2016.01.12 |
| 申请人 | 秦皇岛视听机械研究所 | 发明人 | 杨刚;于国辉;单宏;孟宪圆;于梅霞;张津铭 |
| 分类号 | H01G4/12(2006.01)I | 主分类号 | H01G4/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 秦皇岛市维信专利事务所(普通合伙) 13102 | 代理人 | 戴辉 |
| 主权项 | 一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其特征是，包括一个Z向升降机构，及安装在Z向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构，该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。 | ||
| 地址 | 066000 河北省秦皇岛市海港区河北大街中段165号 | ||