发明名称 Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl von Halbleiterchips und Halbleiterchip
摘要 Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl von Halbleiterchips (10) angegeben, mit den folgenden Schritten: – Bereitstellen eines Aufwachssubstrats (1), das eine Aufwachsfläche (1a) aufweist, die mit Saphir gebildet ist, – Aufbringen eines Maskenmaterials (2) auf die Aufwachsfläche (1a) des Aufwachssubstrats (1), – Strukturieren des Maskenmaterials (2) zu einer mehrfach zusammenhängenden Maskenschicht (21) durch Einbringen von Öffnungen (22) in das Maskenmaterial (2), wobei am Boden (23) zumindest mancher der Öffnungen (22) die Aufwachsfläche (1a) freigelegt wird, – Aufbringen einer Halbleiterschichtenfolge (3) in die Öffnungen (22) und auf die Maskenschicht (21), – Vereinzeln zumindest der Halbleiterschichtenfolge (3) zu einer Vielzahl von Halbleiterchips (10), wobei jeder Halbleiterchip (10) laterale Abmessungen (L) aufweist und die lateralen Abmessungen (L) groß sind gegen einen mittleren Abstand (A) der Öffnungen (22) zur nächstliegenden Öffnung.
申请公布号 DE102014114109(A1) 申请公布日期 2016.03.31
申请号 DE201410114109 申请日期 2014.09.29
申请人 OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH 发明人 PERZLMAIER, KORBINIAN;OFF, JÜRGEN;GOTSCHKE, TOBIAS
分类号 H01L33/20;H01L21/31;H01L21/78 主分类号 H01L33/20
代理机构 代理人
主权项
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