发明名称 Inspektionssystem und Verfahren zu dessen Steuerung
摘要 Ein Inspektionssystem umfasst eine Strahlungsquelle, einen Bilddetektor und eine Platzierungsvorrichtung. Die Platzierungsvorrichtung umfasst einen Träger und einen Rotationsmechanismus. Was die Verbindungen anbelangt, so ist die Platzierungsvorrichtung eingerichtet, um zwischen der Strahlungsquelle und dem Bilddetektor angeordnet zu werden, und der Rotationsmechanismus ist eingerichtet, um mit dem Träger verbunden zu sein. Was die Betriebsweise anbelangt, so werden die Strahlungsquelle und der Bilddetektor so angetrieben, dass sie entlang eines zuvor bestimmten Pfades bewegt werden, der Träger ist eingerichtet, um mindestens ein Objekt zu tragen, und der Rotationsmechanismus ist eingerichtet, um den Träger zu drehen.
申请公布号 DE102014116054(A1) 申请公布日期 2016.03.31
申请号 DE201410116054 申请日期 2014.11.04
申请人 TEST RESEARCH, INC. 发明人 CHIU, CHIH-PIN;CHENG, YU-CHE;YEN, CHIA-HO;CHEN, SHIH-LIANG
分类号 G01N23/06 主分类号 G01N23/06
代理机构 代理人
主权项
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