用于测量介质的光学性质的测量装置

摘要

本发明涉及一种用于测量介质的光学性质的测量装置，包括：用于发射光的至少第一光源和第二光源；用于接收至少具有第一接收波长和第二接收波长的光的至少一个光接收器；用于使光弯曲和/或折射的至少一个色散元件；其中，由所述光源发射的光撞击所述色散元件并且由所述色散元件转向，使得光撞击所述光接收器，其特征在于所述第一光源相对于所述色散元件以第一角度布置，并且所述第二光源相对于所述色散元件以第二角度布置，其中，所述第二角度不同于所述第一角度，其中，所述第一角度被实施为使得由所述色散元件转向的光的波长对应于所述第一接收波长，并且其中，所述第二角度被实施为使得由所述色散元件转向的光的波长对应于所述第二接收波长。

主权项

一种用于测量介质的光学性质的测量装置，包括：至少第一光源和第二光源，用于发射光，其中，所述第一光源和所述第二光源具有相同的发射光谱；以及所述第一光源和/或第二光源以宽带方式发射；一个光接收器，用于接收至少具有第一接收波长和第二接收波长的光；至少一个色散元件，用于使光弯曲和/或折射；其中，由所述光源发射的光撞击所述色散元件并且由所述色散元件转向，使得光撞击所述光接收器，所述第一光源相对于所述色散元件以第一角度布置，并且所述第二光源相对于所述色散元件以第二角度布置，其中，所述第二角度不同于所述第一角度，其中，所述第一角度被实施为使得由所述色散元件(4)转向的光的波长对应于所述第一接收波长，以及所述第一角度被选定使得仅所述第一接收波长的光到达所述光接收器，其中其余的波长通过色散元件被沿其它方向弯曲、折射、散射或反射；其中，所述第二角度被实施为使得由所述色散元件转向的光的波长对应于所述第二接收波长，以及所述第二角度被选定使得仅所述第二接收波长的光到达所述光接收器，其中其余的波长通过色散元件被沿其它方向弯曲、折射、散射或反射。