一种涂层测厚仪

摘要

本实用新型公开了一种涂层测厚仪，包括壳体，所述壳体外设有LCD显示屏，所述壳体内封装有主控MCU；电源模块；第一探头，所述第一探头内设有一线圈，所述第一探头与所述主控MCU电性连接；第二探头，所述第二探头与所述主控MCU电性连接；第三探头；存储模块，所述存储模块与所述主控MCU电性连接；USB通信模块；蓝牙通信模块；校准模块，所述校准模块与所述主控MCU电性连接，所述校准模块与传感器模块电性连接；报警器；清洗装置，所述壳体上还设有清洗装置，所述清洗装置用以清除涂层表面的污垢。本实用新型测量精度高，可靠性好，数据再现性强，结构简单，制造成本低，实用性好。

主权项

一种涂层测厚仪，其特征在于，包括：壳体，所述壳体外设有LCD显示屏，所述壳体内封装有主控MCU，所述主控MCU采用32位CPU，所述LCD显示屏与所述主控MCU电性连接；电源模块，所述电源模块为内置式的聚合物锂电池，所述电源模块与所述主控MCU电性连接，所述电源模块还包括一逆变器用以输出高频交流电；第一探头，所述第一探头内设有一线圈，所述线圈在高频交流电的作用下产生交变电磁场，当第一探头与涂层接触时，金属基体上产生涡流并对第一探头中的线圈产生反馈作用，所述第一探头将线圈受到的反馈信号传送给所述主控MCU，所述主控MCU根据第一探头传来的数据计算出涂层的厚度并在所述LCD显示屏上显示，所述第一探头与所述主控MCU电性连接；第二探头，所述第二探头与金属基体构成闭合磁路，所述第二探头将磁路磁阻变化信号传送给所述主控MCU，所述主控MCU根据所述磁路磁阻变化信号计算出所述金属基体上的涂层的厚度并在所述LCD显示屏上显示，所述第二探头与所述主控MCU电性连接；第三探头，所述第三探头还包括有用以产生超声脉冲波的超声波发射电路、用以接收超声波回波的接收电路、用以计量脉冲数目的计数电路，所述超声波发射电路激励所述第三探头发射超声波脉冲，所述超声波脉冲经待测物体的介面反射后由所述接收电路接收，所述计数电路与主控MCU计算出涂层的厚度；存储模块，所述存储模块用以储存涂层厚度的测量数据，包括测量的时间、测量时的温度、环境光强度、物体的硬度、表面平均曲率、表面粗糙度、探头的角度、测出的厚度数值，以上数据以数组的形式保存在存储模块中，所述存储模块与所述主控MCU电性连接；USB通信模块，所述USB通信模块与所述主控MCU通过信号线连接，所述USB通信模块通过主控MCU可以读取所述存储模块内的数据，所述USB通信模块与所述电源模块电性连接；蓝牙通信模块，所述蓝牙通信模块与所述主控MCU通过信号线连接，所述蓝牙通信模块通过主控MCU可以读取所述存储模块内的数据；校准模块，所述校准模块与所述主控MCU电性连接，所述校准模块与传感器模块电性连接；报警器，所述报警器包括指示灯、蜂鸣器，所述报警器与所述主控MCU电性连接；清洗装置，所述壳体上还设有清洗装置，所述清洗装置用以清除涂层表面的污垢。