电子器件外观检测系统及电子器件外观检测方法

摘要

本发明公开了一种电子器件外观检测系统及电子器件外观检测方法，属于电子器件外观检测领域，为解决现有技术检测效率低等问题而设计。本发明电子器件外观检测系统包括上下料装置、旋转装置、拍照装置、以及图像分析装置；其中，上下料装置用于将被检测电子器件送至检测位置以及送离检测位置；旋转装置用于驱动被检测电子器件转动设定角度或持续转动，以供拍摄其外观；拍照装置用于拍摄被检测电子器件的外观图片或视频信息，并将拍摄结果发送至图像分析装置；图像分析装置用于根据拍摄结果判断被检测电子器件的外观是否合格，并显示判断结果。本发明电子器件外观检测系统及检测方法功能强、操作简便、性价比高、误判率低、检测效率高。

主权项

一种电子器件外观检测系统，其特征在于，所述检测系统包括上下料装置、旋转装置、拍照装置、以及图像分析装置；其中，上下料装置，用于将被检测电子器件(1)送至检测位置以及送离所述检测位置；旋转装置，用于驱动所述被检测电子器件(1)转动设定角度或持续转动，以供拍摄其外观；拍照装置，用于拍摄所述被检测电子器件(1)的外观图片或视频信息，并将拍摄结果发送至所述图像分析装置；图像分析装置，用于根据所述拍摄结果判断所述被检测电子器件(1)的外观是否合格，并显示判断结果。