发明名称 一种提高OSP上锡性的控制方法
摘要 本发明涉及OSP技术领域,尤其涉及一种提高OSP上锡性的控制方法,采用本发明提供的技术方案先对PCB进行检测,保证OSP膜上膜前铜面的洁清度,在OSP良好条件中成膜,成膜后检验、运送和包装过程中得到保护,针对OSP工序前、OSP工序和OSP后工序易出现的状况进行控制防患,解决了因OSP膜控制不好导致PCB板上锡差的技术问题,从而保持了OSP处理过的PCB板保持良好的上锡性。
申请公布号 CN105451457A 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201511003573.0 申请日期 2015.12.25
申请人 惠州中京电子科技有限公司 发明人 戴晨曦;李小王;刘德林
分类号 H05K3/28(2006.01)I 主分类号 H05K3/28(2006.01)I
代理机构 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人 温旭
主权项 一种提高OSP上锡性的控制方法,其特征在于:OSP工序包括以下步骤:(1)将测试后的良品PCB转目视终检,确认所述PCB板面的洁净度,同时每批次抽取10‑20set做氯化铜试验,所述PCB板面的洁净度没达到要求时,对所述PCB进行工序改善,所述PCB板面的洁净度达到要求时,所述PCB进入除油工序;(2)洁净度合格的所述PCB浸泡在除油液进行除油工序;(3)采用DI水对除油后的所述PCB进行水洗;(4)将水洗后的所述PCB放置于微蚀槽中,使所述PCB形成粗糙的铜面,便于成膜,所述微蚀槽的微蚀速率为1‑2um;(5)微蚀后的所述PCB依次进入DI水洗、酸洗和DI水洗工序;(6)进入抗氧化工序进行镀膜,吸水海绵每4小时清洗一次,并对膜厚进行检测,当膜厚>0.4um时,降低药液酸度,当膜厚<0.2um时,提升药液PH值;(7)采用DI水进行水洗,所述DI水洗电导率小于500us/cm;(8)依次进入烘干和出料工序。
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