发明名称 |
厚膜結晶層の製造方法 |
摘要 |
厚膜結晶層を製造する方法は、シード層3を区画する脆弱化面を形成するように、少なくとも表面にSixGe1-x結晶層10を有する基板にイオン種を注入する工程(a)と、SiyGe1-y非晶質層5をシード層の上に堆積する工程(b)と、一方がシード層3及びSiyGe1-y非晶質層5を含む分離構造体8となり、他方が基板の残部4となるように、分離処理する工程(c)と、厚さが10μm以上で、残部4に固定されていない厚膜結晶層が得られるように、分離構造体8を熱処理する工程(d)とを備えている。また、本発明はシード層と、注入されたイオンを含む応力領域を有するシリコン非晶質層とを備えたシリコン結晶基板を有する構造体に関する。【選択図】図3 |
申请公布号 |
JP2016509364(A) |
申请公布日期 |
2016.03.24 |
申请号 |
JP20150548716 |
申请日期 |
2013.12.17 |
申请人 |
コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ |
发明人 |
ユベール モリソー;クリストフ モラレス;フランク フルネル |
分类号 |
H01L21/02;H01L21/20;H01L21/265;H01L31/0248;H01L31/18 |
主分类号 |
H01L21/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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