| 摘要 |
Mikroskop-Endoskop-Untersuchungssystem für eine Untersuchung wenigstens eines Objekts, wobei das System (1) für einen Beobachter zu einer Beobachtung von Abbildern des Objekts (36) einen Stereomikroskopstrahlengang (33l, 33r) für eine stereoskopische Abbildung einer Objektebene (35) des Stereomikroskopstrahlengangs (33l, 33r) und einen Endoskopstrahlengang (47l, 47r) zur Abbildung einer Objektebene (49) des Endoskopstrahlengangs (47l, 47r) bereitstellt, wobei der Stereomikroskopstrahlengang (33l, 33r) einen linken Mikroskopstrahlengang (33l) und einen rechten Mikroskopstrahlengang (33r) umfaßt, wobei das Untersuchungssystem (1) umfaßt: eine von dem Endoskopstrahlengang (47l, 47r) durchsetzte Endoskopoptik (3), welche nicht Teil des linken und des rechten Mikroskopstrahlengangs (33l, 33r) ist, mit einer Mehrzahl optischer Elemente (5) und mit einer dem Objekt (36) zugewandten Eintrittsseite (4) für den Endoskopstrahlengang (47l, 47r) und einer Austrittsseite (6) für den Endoskopstrahlengang (47l, 47r), und eine von den drei Strahlengängen (33l, 33r) durchsetzte Hauptoptik (7), welche ein in dem linken Mikroskopstrahlengang (33l) der Objektebene (35) des Stereomikroskopstrahlengangs (33l, 33r) am nächsten angeordnetes erstes optisches Element (9l) und ein in dem rechten Mikroskopstrahlengang (33r) der Objektebene (35) des ... |
