发明名称 |
薄膜晶体管及制备方法 |
摘要 |
一种薄膜晶体管的制备方法,包括在半导体层上形成栅极金属层,在所述栅极金属层上形成光刻胶层,通过构图工艺,使所述栅极金属层形成伪栅极;以所述伪栅极为掩膜,对所述半导体层进行重掺杂离子注入工艺,形成源极重掺杂区及漏极重掺杂区;对所述伪栅极上的所述光刻胶层进行灰化处理,以使所述光刻胶层的尺寸与待形成的栅极尺寸相同,刻蚀所述伪栅极上未被所述光刻胶层覆盖的区域,形成栅极;以所述栅极为掩膜,对所述半导体层进行轻掺杂离子注入工艺,形成源极轻掺杂区及漏极轻掺杂区。上述薄膜晶体管的制备方法,只需要一次图形化工艺即可实现源漏极重掺杂区、栅极、源漏极轻掺杂区的制作,相比于常规工艺可以减少工艺成本,缩短工艺时间。 |
申请公布号 |
CN105428244A |
申请公布日期 |
2016.03.23 |
申请号 |
CN201610029742.6 |
申请日期 |
2016.01.14 |
申请人 |
信利(惠州)智能显示有限公司 |
发明人 |
胡典禄;陈建荣;任思雨;苏君海;李建华 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
邓云鹏 |
主权项 |
一种薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,在半导体层上形成栅极金属层,并且,在形成栅极金属层之后,还包括如下步骤:在所述栅极金属层上形成光刻胶层,通过构图工艺,使所述栅极金属层形成伪栅极;以所述伪栅极为掩膜,对所述半导体层进行重掺杂离子注入工艺,形成源极重掺杂区及漏极重掺杂区;对所述伪栅极上的所述光刻胶层进行灰化处理,以使所述光刻胶层的尺寸与待形成的栅极尺寸相同,刻蚀所述伪栅极上未被所述光刻胶层覆盖的区域,形成栅极;以所述栅极为掩膜,对所述半导体层进行轻掺杂离子注入工艺,形成源极轻掺杂区及漏极轻掺杂区。 |
地址 |
516000 广东省惠州市仲恺高新区新华大道南1号 |