发明名称 |
一种保持研磨机台研磨率平衡的方法 |
摘要 |
本发明涉及化学机械研磨领域,具体涉及一种保持研磨机台研磨率平衡的方法,所述研磨机台包括研磨盘、研磨垫、研磨头和研磨垫修整器,所述方法包括:提供一待研磨的半导体器件;将所述半导体器件放置于所述研磨机台上,以对所述半导体器件进行化学机械研磨工艺;其中,利用所述研磨头的加压功能,通过调整研磨头对于研磨盘的压力,来弥补研磨垫与研磨垫修整器随着寿命变化而导致的研磨率的损失,从而保持研磨率的平衡。 |
申请公布号 |
CN105397613A |
申请公布日期 |
2016.03.16 |
申请号 |
CN201510703181.9 |
申请日期 |
2015.10.26 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
吴科;文静;张传民 |
分类号 |
B24B37/00(2012.01)I;B24B1/00(2006.01)I |
主分类号 |
B24B37/00(2012.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
俞涤炯 |
主权项 |
一种保持研磨机台研磨率平衡的方法,其特征在于,所述研磨机台包括研磨盘、研磨垫、研磨头和研磨垫修整器,所述方法包括:提供一待研磨的半导体器件;将所述半导体器件放置于所述研磨机台上,以对所述半导体器件进行化学机械研磨工艺;其中利用所述研磨头的加压功能,通过调整研磨头对于研磨盘的压力,来弥补研磨垫与研磨垫修整器随着寿命变化而导致的研磨率的损失,从而保持研磨率的平衡。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |