发明名称 | 透射X射线分析装置及方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种透射X射线分析装置及方法,能够在使用TDI传感器检测试料的透射X射线像之际,容易且大范围地调节TDI传感器的累加级数。本透射X射线分析装置(1)检测对既定的扫描方向(L)上相对移动的试料(100)的透射X射线像进行检测,具备:时间延迟积分式的TDI传感器(14),以2维状具备多个读取将由来于透射X射线像的图像光电转换而生成的电荷的摄像元件,该TDI传感器在扫描方向上多级排列线性传感器(14a~14h),该线性传感器中摄像元件沿与扫描方向垂直的方向排列,将积累在一个线性传感器中的电荷转移到邻接的下一个线性传感器;遮蔽装置(21),配置于TDI传感器和试料之间,沿扫描方向前进后退而遮蔽入射到TDI传感器的图像的一部分;遮蔽装置位置控制装置(60),控制遮蔽装置的位置以遮蔽既定级数的线性传感器。 | ||
申请公布号 | CN102954973B | 申请公布日期 | 2016.03.16 |
申请号 | CN201210274472.7 | 申请日期 | 2012.08.03 |
申请人 | 日本株式会社日立高新技术科学 | 发明人 | 的场吉毅 |
分类号 | G01N23/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 何欣亭;李浩 |
主权项 | 一种透射X射线分析装置,对既定的扫描方向上相对移动的试料的透射X射线像进行检测,其特征在于,所述透射X射线分析装置具备:时间延迟积分式的TDI传感器,以2维状具备多个读取将由来于所述透射X射线像的图像光电转换而生成的电荷的摄像元件,该TDI传感器在所述扫描方向上多级排列线性传感器,该线性传感器中所述摄像元件沿与所述扫描方向垂直的方向排列,将积累在一个线性传感器中的电荷转移到邻接的下一个线性传感器;遮蔽装置,配置于所述TDI传感器和所述试料之间,沿所述扫描方向前进后退而遮蔽入射到所述TDI传感器的所述图像的一部分;以及遮蔽装置位置控制装置,控制所述遮蔽装置的位置以遮蔽既定级数的所述线性传感器。 | ||
地址 | 日本东京都 |