发明名称 |
晶片电子零件之特性检查与分类用的装置 |
摘要 |
明之课题为提供一种装置,系藉由使电极端子接触收容在具备有多数个透孔的晶片电子零件保持板之在呈对向的两端面具有电极的晶片电子零件的各电极来检查晶片电子零件的电气特性,再依据该检查结果对测量后的晶片电子零件进行分类的装置,其能够抑制因为与电气特性检查用的电极端子接触而造成之晶片电子零件的电极表面之接触伤的产生。
本发明之解决手段为:作为与晶片电子零件接触的电极端子,系使用捆束杨氏系数在140~1000GPa的范围、维氏硬度在7000MPa以上、以及体积电阻率在200μΩcm以下的导电性纤维,使其分别叠合于二维方向而构成的电极端子。
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申请公布号 |
TW201610447 |
申请公布日期 |
2016.03.16 |
申请号 |
TW103130823 |
申请日期 |
2014.09.05 |
申请人 |
慧萌高新科技有限公司 |
发明人 |
萩田雅也 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01);G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
一种装置,系晶片电子零件之特性检查与分类用的装置,其包含:晶片电子零件保持板,以暂时收容在呈对向的端面各自具有电极的晶片电子零件之2个以上的透孔形成在相互接近的位置而形成;一对电极端子,配置在与该晶片电子零件保持板的各透孔之两个开口部接近的位置;检查器,分别与该一对电极端子电性连接;控制器,与该检查器电性连接用以对该检查器供给关于晶片电子零件的检查对象之电气特性的讯号;以及分类系统,依据该检查出的电气特性之相异对检查完成的晶片电子零件进行分类且予以收容,藉由使一对电极端子接触晶片电子零件的各电极,使得从检查器传送至电极端子的检查用电压施加于收容在透孔的晶片电子零件,藉由施加该检查用电压能够利用各检查器测得在各晶片电子零件所产生的电流值,其特征为:上述一对电极端子的至少一方系捆束杨氏系数在140~1000GPa的范围,维氏硬度为7000MPa以上、以及体积电阻率为200μΩcm以下的导电性纤维使其分别叠合于二维方向所构成之电极端子。
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地址 |
日本 |