发明名称 窒化物半導体エピタキシャルウェハの製造方法及び電界効果型窒化物トランジスタの製造方法
摘要 A nitride semiconductor epitaxial wafer includes a substrate, a GaN layer provided over the substrate, and an AlGaN layer provided over the GaN layer. The GaN layer has a wurtzite crystal structure, and a ratio c/a of a lattice constant c in a c-axis orientation of the GaN layer to a lattice constant a in an a-axis orientation of the GaN layer is not more than 1.6266.
申请公布号 JP5883331(B2) 申请公布日期 2016.03.15
申请号 JP20120078469 申请日期 2012.03.30
申请人 住友化学株式会社 发明人 田中 丈士;金田 直樹;成田 好伸
分类号 H01L21/338;C23C16/34;H01L21/205;H01L29/778;H01L29/812 主分类号 H01L21/338
代理机构 代理人
主权项
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