| 发明名称 |
用于记忆体输入输出(I/O)介面之测试的设备、方法与系统及电脑可读储存媒体 |
| 摘要 |
施例一般系针对记忆体输入/输出(I/O)介面之非接触式压力测试技术。一记忆体装置之一实施例包括与一动态随机存取记忆体(DRAM)耦合之一系统元件，该系统元件包括用于与该DRAM连接之一记忆体介面，该介面包括一驱动器与一接收器、用于该DRAM的控制之一记忆体控制器、以及用于该I/O介面的测试之一时序压力测试逻辑。
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| 申请公布号 |
TWI525638 |
申请公布日期 |
2016.03.11 |
| 申请号 |
TW102119926 |
申请日期 |
2013.06.05 |
| 申请人 |
英特尔公司 |
发明人 |
梅诺 桑卡兰Ｍ;罗德 罗伯特Ｒ |
| 分类号 |
G11C7/24(2006.01);G11C7/10(2006.01) |
主分类号 |
G11C7/24(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
恽轶群;陈文郎 |
| 主权项 |
一种用于记忆体输入/输出(I/O)介面之测试的设备，包含有：用以与一动态随机存取记忆体(DRAM)耦合之一系统元件，该系统元件包括：用来与该DRAM连接之一记忆体输入/输出(I/O)介面，该介面包括一驱动器与一接收器；用于该DRAM之控制的一记忆体控制器；以及用于该记忆体I/O介面之测试的一时序压力测试逻辑，其中该时序压力测试逻辑提供用于特性测试来对该记忆体I/O介面建立临界准位，以及不通过测试以判定一记忆体I/O介面是否符合临界准位需求。
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| 地址 |
美国 |
