| 发明名称 | 用于测量X射线图像设备和X射线检测器中的X射线剂量参数的装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于测量X射线剂量参数的装置(205，2051，2052，2053，2054，2055，305，405)。所述装置包括用于检测所述X射线剂量的检测器(3051，3052)。所述装置被配置为定位在邻近X射线源(201)的位置中，所述X射线源被布置成产生具有用于辐射对象(206)的主要射线部分的射线阵式，其中所述位置以这种方式选取，该方式使得减小或消除时再现图像的干扰。 | ||
| 申请公布号 | CN105393142A | 申请公布日期 | 2016.03.09 |
| 申请号 | CN201480031749.0 | 申请日期 | 2014.05.30 |
| 申请人 | 安福斯射线安全股份公司 | 发明人 | T·安福斯 |
| 分类号 | G01T1/24(2006.01)I;A61B6/10(2006.01)I;H05G1/26(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/24(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 金晓 |
| 主权项 | 一种用于测量X射线剂量参数的装置(205，2051，2052，2053，2054，2055，305，405)，所述装置包括用于检测所述X射线剂量的检测器(3051，3052)，其特征在于，所述装置被配置为定位在邻近X射线源(201)的位置中，所述X射线源被布置成产生具有用于辐射对象(206)的主要射线部分的射线阵式，其中所述位置以这种方式选取，该方式使得减小或消除对再现图像的干扰。 | ||
| 地址 | 瑞典比尔达尔 | ||