| 摘要 |
물체(2)의 높이 또는 높이 프로파일을 측정하기 위한 방법으로서, 이 방법은 다음의 방법 단계들: 광원(5)에 의해 상기 물체(2) 상에 횡축(X)의 방향으로 연장하여 연속적인 코딩된 픽처 요소들(11, 17)의 형태로 광 패턴(12)을 투영하는 단계 - 상기 픽처 요소들(11, 17) 각각은 적어도 하나의 코딩 특징을 갖고, 상기 픽처 요소들(11, 17)은 함께 코드 워드(7, 16)를 정의하며, 사전 결정된 수의 연속적인 픽처 요소들(11)의 시퀀스로부터의 픽처 요소 그룹들 각각은 상기 코드 워드(7, 16) 내에 정확히 한 번 존재하는 개별 부분 코드 워드들(8, 13, 14, 15)을 정의하고, 바로 이웃하는 픽처 요소 그룹들은 부분적으로 동일한 픽처 요소들(11, 17)을 포함하며, 각각의 픽처 요소 그룹은 기준 평면에 관하여 상기 횡축(X)의 방향으로 특정 기준 위치에 할당됨 - , 상기 광원(5)에 대해 오프셋 배열된 픽처 센서(3)에 의해 상기 광 패턴(12)을 캡처하는 단계, 상기 픽처 요소 그룹들의 상기 횡축(X) 방향에서의 위치들을 결정하는 단계, 및 상기 픽처 요소 그룹들의 상기 결정된 위치와 상기 각각의 기준 위치를 비교하여 상기 물체(2)의 상기 높이를 결정하는 단계 를 포함하고, 상기 픽처 요소들(11, 17)은 개별 광 포인트들이고, 상기 코딩 특징은 상기 개별 픽처 요소들(11, 17)의 상기 시퀀스의 방향에서의 상기 광 패턴(12)의 연장에 대해 횡 방향에서의 상기 광 포인트들의 위치이고, 상기 광 포인트들은 상기 광 패턴(12)의 상기 연장을 따라 여러 개의 라인으로 배열된다. |
