| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung offenbart eine Temperaturerfassungseinrichtung zur Erfassung einer Vielzahl von Temperaturen in einer Leistungshalbleitervorrichtung mit zumindest drei Leistungshalbleiterhalbbrücken, wobei jede Leistungshalbleiterhalbbrücke zumindest zwei Leistungsschalter und jeweils eine zu dem entsprechenden Leistungsschalter antiparallel geschaltete Diode und mindestens einen Temperatursensor aufweist, wobei die Leistungshalbleiterhalbbrücken von einem Kühlmedium zumindest unterspült werden, mit jeweils einem Brückenzustandsmodell für jede der Leistungshalbleiterhalbbrücken, wobei die Brückenzustandsmodelle jeweils einen Zustand für jede Stelle in der entsprechenden Leistungshalbleiterhalbbrücke aufweisen, deren Temperatur erfasst werden soll, wobei das Brückenzustandsmodell zumindest einen Zustand für den Temperatursensor aufweist, mit einem Kühlmediumzustandsmodell, welches die Brückenzustandsmodelle aufweist und für jedes Brückenzustandsmodell einen Kühlmediumzustand aufweist, welcher die Temperatur des Kühlmediums unter der jeweiligen Leistungshalbleiterhalbbrücke kennzeichnet, und mit einer Recheneinrichtung, welche ausgebildet ist, basierend auf von den jeweiligen Temperatursensoren erfassten Sensortemperaturen und dem Kühlmediumzustandsmodell die zu erfassenden Temperaturen in der Leistungshalbleitervorrichtung zu berechnen und auszugeben. |
