发明名称 一种高密度集成电路键合精度控制方法
摘要 一种高密度集成电路键合精度控制方法,步骤如下:(1)选取待使用的所有高密度集成电路所用的外壳;所述的外壳为窄宽度高密度键合指外壳;(2)采用金丝键合机上的视频引脚定位器VLL对步骤(1)中的外壳进行预先筛选;所述的视频引脚定位器VLL筛选过程中所用参数为:后定位线的长度比键合指宽度长10um-15um,前定位线的长度比键合指宽度长5um-10um,端头定位点的误差识别范围为0-4um,键合位置点的误差识别范围为0-2um,识别速度为5-8mm/ms;(3)将利用步骤(2)参数能够识别出焊点位置的外壳标识为一组,对其他外壳继续执行步骤(4);(4)按照允许的键合位置点误差识别范围上限,调节视频引脚定位器VLL上的键合点位置,从步骤(2)开始执行,直至所有外壳归类完成。
申请公布号 CN105374700A 申请公布日期 2016.03.02
申请号 CN201510845332.4 申请日期 2015.11.26
申请人 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 发明人 井立鹏;冯达;荆林晓;钱红英;倪琳;崔淑燕;戚娟;姜振来
分类号 H01L21/60(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I 主分类号 H01L21/60(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 庞静
主权项 一种高密度集成电路键合精度控制方法,其特征在于步骤如下:(1)选取待使用的所有高密度集成电路所用的外壳;所述的外壳为窄宽度高密度键合指外壳;(2)采用金丝键合机上的视频引脚定位器VLL对步骤(1)中的外壳进行预先筛选;所述的视频引脚定位器VLL筛选过程中所用参数为:后定位线的长度比键合指宽度长10um‑15um,前定位线的长度比键合指宽度长5um‑10um,端头定位点的误差识别范围为0‑4um,键合位置点的误差识别范围为0‑2um,识别速度为5‑8mm/ms;(3)将利用步骤(2)参数能够识别出焊点位置的外壳标识为一组,对其他外壳继续执行步骤(4);(4)按照允许的键合位置点误差识别范围上限,调节视频引脚定位器VLL上的键合点位置,从步骤(2)开始执行,直至所有外壳归类完成。
地址 100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号