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Eine Prüfanordnung für eine mit elektronischen Bauelementen (4) bestückte Leiterplatte (3) weist einen Grundkörper (1) auf, der seinerseits eine Aufnahme (2) für die Leiterplatte (3) aufweist. In der Aufnahme (2) ist eine Vielzahl von Kontakten (5) angeordnet, die bei in die Aufnahme (2) eingesetzter Leiterplatte (3) Kontaktstellen (6) der Leiterplatte (3) elektrisch kontaktieren. Die Kontakte (5) sind über ein Schaltnetzwerk (7) mit Signalgeneratoren (8) und Signalerfassungseinrichtungen (9) verbindbar. Eine programmgesteuerte Logikeinheit (10) ist mit dem Schaltnetzwerk (7), den Signalgeneratoren (8) und den Signalerfassungseinrichtungen (9) verbunden. Ein Programmspeicher (11), in dem ein Steuerprogramm (SP) für die Logikeinheit (10) hinterlegt ist, ist mit der Logikeinheit (10) datentechnisch verbunden. Entsprechend dem im Programmspeicher (11) hinterlegten Steuerprogramm (SP) steuert die Logikeinheit (10) das Schaltnetzwerk (7), die Signalgeneratoren (8) und die Signalerfassungseinrichtungen (9) dynamisch an, nimmt von den Signalerfassungseinrichtungen (9) Messresultate (M) entgegen, nimmt anhand der entgegengenommenen Messresultate (M) eine Gesamtbewertung (G) der Leiterplatte (3) vor und gibt zumindest die Gesamtbewertung (G) über eine Schnittstelle (12) aus. Das Schaltnetzwerk (7), die Signalgeneratoren (8), die Signalerfassungseinrichtungen (9), die Logikeinheit (10), der Programmspeicher (11) und die Schnittstelle (12) sind in einen innerhalb des Grundkörpers (1) angeordneten ASIC (13) der Prüfanordnung integriert. |
