发明名称 采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的方法
摘要 一种采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的方法,属于微纳米结构加工领域。为了解决复杂三维微纳米结构加工问题,所述装置包括AFM、X方向精密工作台、Y方向精密工作台,X方向精密工作台底座固连在Y方向精密工作台的滑块上,X方向定位工作台的滑块进行X方向运动,Y方向精密工作台底座固连在AFM样品台上,Y方向定位工作台的滑块进行Y方向运动。本发明提出的三种方法分别通过对同一套商用AFM以及高精度定位平台系统的不用控制和参数设置,实现采用AFM探针纳米刻划技术加工复杂三维微纳米结构的加工。本发明能够在较低成本下解决复杂三维微纳米结构的加工问题,且方法简单,装置及加工实现成本相对较低。
申请公布号 CN104150433B 申请公布日期 2016.03.02
申请号 CN201410385711.5 申请日期 2014.08.07
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 于博文;耿延泉;闫永达;赵学森;胡振江
分类号 B81C1/00(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的方法,所述方法采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的装置实现的,所述装置包括AFM、X方向精密工作台、Y方向精密工作台、二维高精度定位平台控制器、控制计算机、AFM控制器和控制电脑,X方向精密工作台底座固连在Y方向精密工作台的滑块上,Y方向精密工作台底座固连在AFM样品台上;二维高精度定位平台控制器与X方向精密工作台和Y方向精密工作台相连,控制计算机与二维高精度定位平台控制器相连,原子力显微镜与AFM控制器和控制电脑依次连接;所述X方向精密工作台与Y方向精密工作台都是毫米尺度、纳米级定位精度的位移台;其特征在于所述方法步骤如下:AFM探针在设定的区域连续扫描加工,一次扫描结束后回到初始位置继续重复上一次的扫描,同时X方向精密工作台在加工方向以同一速度运动,通过对AFM探针进给方向扫描速度与X方向精密工作台运动速度的设定和匹配,实现底面阶梯结构的纳米通道的加工。
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