发明名称 Halbleitergehäuse und Verfahren zu ihrer Ausbildung
摘要 Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung umfassen Halbleitergehäuse und Verfahren zu ihrer Ausbildung. Eine Ausführungsform besteht aus einem Verfahren, das das Ausbilden eines ersten Die-Gehäuses umfasst, wobei das erste Die-Gehäuse einen ersten Die, ein erstes elektrisches Anschlussteil und eine erste Umverteilungsschicht umfasst, wobei die erste Umverteilungsschicht mit dem ersten Die und dem ersten elektrischen Anschlussteil verbunden ist, das Ausbilden einer Unterfüllung über dem ersten Die-Gehäuse, das Strukturieren der Unterfüllung, so dass sie eine Öffnung aufweist, um einen Abschnitt des ersten elektrischen Anschlussteils freizulegen, und das Verbinden eines zweiten Die-Gehäuses mit dem ersten Die-Gehäuse mit einer Verbindungsstruktur, wobei die Verbindungsstruktur mit dem ersten elektrischen Anschlussteil in der Öffnung der Unterfüllung verbunden ist.
申请公布号 DE102015105855(A1) 申请公布日期 2016.02.25
申请号 DE201510105855 申请日期 2015.04.17
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. 发明人 YU, CHEN-HUA;LIN, JING-CHENG;TSAI, PO-HAO
分类号 H01L21/60;H01L23/28;H01L25/065 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
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