发明名称 一种高温耦合场测量系统
摘要 本发明涉及一种高温耦合场测量系统,包括:脉冲结构光激光器、远心光学系统、探测和图像采集系统以及远程测量控制系统,其中,脉冲结构光激光器,用于为该测量系统提供按照测试要求间隔时间进行工作的结构光激光光源,照射到被测物上;远心光学系统,用于对被测物按照一定比例倍率进行成像在探测和图像采集系统上;探测和图像采集系统,用于在热试验过程中,检测得到被测物体的温度、位移与应变;远程测量控制系统,用于在热试验过程中,控制所述探测和图像采集系统进行检测,并接收所述探测和图像采集系统反馈的温度、位移与应变;本发明能实现高温耦合场测量系统,能够对高温耦合场的温度、位移与应变进行测量,测量精度高,测量范围大。
申请公布号 CN105352734A 申请公布日期 2016.02.24
申请号 CN201510930527.9 申请日期 2015.12.15
申请人 北京振兴计量测试研究所 发明人 任晓婉;张玉国
分类号 G01M15/00(2006.01)I;G01D21/02(2006.01)I 主分类号 G01M15/00(2006.01)I
代理机构 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人 左萌;马东伟
主权项 一种高温耦合场测量系统,其特征在于,包括:脉冲结构光激光器、远心光学系统、探测和图像采集系统以及远程测量控制系统,其中,脉冲结构光激光器,用于为该测量系统提供按照测试要求间隔时间进行工作的结构光激光光源,照射到被测物上;远心光学系统,用于对被测物按照一定比例倍率进行成像在探测和图像采集系统上;探测和图像采集系统,用于在热试验过程中,当被测物体大小由于高温、振动影响发生位移偏移时,检测得到被测物体的温度、位移与应变;远程测量控制系统,用于在热试验过程中,控制所述探测和图像采集系统进行检测,并接收所述探测和图像采集系统反馈的温度、位移与应变。
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