电子元件检测分选之搬送方法及装置

摘要

明系一种电子元件检测分选之搬送方法及装置，主要使待测元件被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时，维持一第一置设方向；及使待测元件在维持一第一置设方向下，被以垂直第一搬送路径方向的第二搬送路径被移送，而自一开口进入一测盘之容置空间；或在被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时进行转向；使进行上侧发光(Top view)及侧面发光(Side view)之发光二极体检测时，可以共用相同的搬送方法及装置者。

主权项

一种电子元件检测分选之搬送方法，包括：一整列输出步骤，以一输送机构的输送槽道之输送路径，使待测元件被输送槽道被从一输送口送出；一入料步骤，以一可受驱动作间歇性前、后往复位移的入料机构将从输送口推出的待测元件移送进入一可受驱动作间歇性转动之转向机构的一移载部；一转向步骤，转向机构旋转一角度，将移载部中之待测元件旋转搬送至对应一测盘周缘环列布设的容置空间；一转换步骤，将待测元件移出移载部往测盘之容置空间方向位移，并使待测元件于测盘的容置空间中被定位、搬送及进行检测。