发明名称 Einstellen der Ladungsträgerlebensdauer in einem bipolaren Halbleiterbauelement
摘要 Beschrieben wird ein Verfahren und ein Halbleiterbauelement. Das Verfahren umfasst das Implantieren von Rekombinationszentrumatomen über eine erste Oberfläche in einem Halbleiterkörper; und das Bewirken, dass die implantierten Rekombinationszentrumatome in einem ersten Diffusionsprozess in dem Halbleiterkörper diffundieren.
申请公布号 DE102015112265(A1) 申请公布日期 2016.02.18
申请号 DE201510112265 申请日期 2015.07.28
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SCHMIDT, GERHARD;MILLONIG, HANS;HUMBEL, OLIVER;BARUSIC, MARIO;SCHUSTEREDER, WERNER;BAUER, JOSEF-GEORG
分类号 H01L21/265;H01L21/331;H01L29/739 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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