发明名称 |
通过相同结构的光接收二极管识别紫外线发光二极管的发射辐射 |
摘要 |
通过相同结构的光接收二极管识别紫外线发光二极管的发射辐射。所述装置包含设置在风化室(1)中的发光二极管(UV-LED)(2)以及紫外线光接收二极管(4),它具有与紫外线发光二极管(2)相同的材料基础,并相对于紫外线发光二极管(2)这样设置,即使在装置运行过程中紫外线发光二极管(2)发射的部分辐射到达紫外线光接收二极管(4)上。 |
申请公布号 |
CN103528939B |
申请公布日期 |
2016.02.17 |
申请号 |
CN201310278368.X |
申请日期 |
2013.07.04 |
申请人 |
阿特拉斯材料测试技术公司 |
发明人 |
贝恩德·鲁道夫;彼得·马尔希 |
分类号 |
G01N17/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N17/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海翰鸿律师事务所 31246 |
代理人 |
李佳铭 |
主权项 |
用于试样的人工风化或耐光性检验的装置,包含风化室(1);设置在风化室(1)中的紫外线辐射装置(20),它至少包含一个紫外线发光二极管(UV‑LED)(2);以及紫外线光接收二极管(4),它包括与紫外线发光二极管(2)相同的半导体层结构,且相对于紫外线发光二极管(2)进行设置,使在装置运行过程中由紫外线发光二极管(2)发射部分辐射到达紫外线光接收二极管(4)上。 |
地址 |
德国灵森格里希特 |