发明名称 薄膜晶体管及其制备方法
摘要 本发明公开了一种薄膜晶体管及其制备方法。该晶体管采用顶栅底接触式结构,包括有源层、源电极、漏电极、绝缘层和栅电极,其中绝缘层与有源层之间还设有界面修饰层;该晶体管的制备方法包括:在基底上设置有源层;在所述有源层表面设置源电极和漏电极;在所述有源层表面及源电极和漏电极上修饰界面修饰材料,形成界面修饰层;在所述界面修饰层上设置绝缘层;以及,在所述绝缘层上设置栅电极。本发明通过对薄膜晶体管中的有源层进行界面修饰,能够极大的降低晶体管的关态电流,并提高开关比,同时通过采用顶栅底接触式的结构,还使得晶体管的稳定性得到很大的提高。
申请公布号 CN105336790A 申请公布日期 2016.02.17
申请号 CN201410400438.9 申请日期 2014.08.14
申请人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 发明人 吴馨洲;陈征;崔铮
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人 王锋
主权项 一种薄膜晶体管,包括有源层、源电极、漏电极、绝缘层和栅电极,所述源电极和漏电极设置在所述有源层之上,并与有源层电性连接,所述绝缘层覆设于所述有源层以及所述源电极和漏电极之上,所述栅电极设置在所述绝缘层之上,其特征在于所述绝缘层与所述有源层之间还设有界面修饰层。
地址 215000 江苏省苏州市工业园区独墅湖高教区若水路398号