发明名称 |
感测器晶片及检测装置 |
摘要 |
感测器晶片,其包含:基板;凹凸构造,其系包含于基板之表面呈格子状地排列而形成之凸部及凸部间之凹部;以及金属微粒子,其系藉由凹凸构造之互相邻接之凸部各自之上部脊线以具有产生表面电浆共振之微小间隙而排列。
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申请公布号 |
TWI521196 |
申请公布日期 |
2016.02.11 |
申请号 |
TW100147815 |
申请日期 |
2011.12.21 |
申请人 |
精工爱普生股份有限公司 |
发明人 |
坂上裕介 |
分类号 |
G01N21/55(2014.01);G01N21/65(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/55(2014.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
一种感测器晶片,其包含:基板;复数个凸部,其系于上述基板之表面呈格子状地排列而形成;及复数个金属微粒子,其系于上述复数个凸部之互相邻接之凸部之上部脊线接触而被支持;其中上述复数个金属微粒子之至少一部分在与邻接之金属微粒子之间具有间隙;且上述基板之表面与上述金属微粒子间具有空间,将复数个上述空间连结而连通至外部。
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地址 |
日本 |