发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 提供一种半导体装置和一种制造半导体装置 的方法。半导体装置包括一基板,一闸极结构在基板之上,一源/汲区在基板上与一对间隙壁相邻,蚀刻终止层在一对间隙壁旁且上覆基板,接触插塞延伸进入源/汲区且通过间隙壁部分重叠闸极结构;保护层在上覆于基板的蚀刻终止层之上,且覆盖没有接触插塞之间隙壁旁之蚀刻终止层;以及层间介电层,在保护层之上,接触插塞和闸极结构间,没有接触闸极短路的问题。
申请公布号 TWI521644 申请公布日期 2016.02.11
申请号 TW103144808 申请日期 2014.12.22
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 江宗育;陈光鑫
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L23/48(2006.01);H01L23/485(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项 一种半导体装置,包含:一基板;一闸极结构在该基板之上,包含:一闸介电层,在该基板之上;一闸极,在该闸介电层之上;一绝缘层,在该闸极之上;以及一对间隙壁,在该闸极之两侧;一源/汲区,在该基板上与该对间隙壁相邻;一蚀刻终止层,在该对间隙壁旁且上覆该基板;一接触插塞,延伸进入该源/汲区且通过该间隙壁部分重叠该闸极结构;一保护层,在上覆该基板之该蚀刻终止层之上,且覆盖没有该接触插塞之该间隙壁旁之该蚀刻终止层;以及一层间介电层,在该保护层之上。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号