发明名称 |
半导体装置及其制造方法 |
摘要 |
提供一种半导体装置和一种制造半导体装置
的方法。半导体装置包括一基板,一闸极结构在基板之上,一源/汲区在基板上与一对间隙壁相邻,蚀刻终止层在一对间隙壁旁且上覆基板,接触插塞延伸进入源/汲区且通过间隙壁部分重叠闸极结构;保护层在上覆于基板的蚀刻终止层之上,且覆盖没有接触插塞之间隙壁旁之蚀刻终止层;以及层间介电层,在保护层之上,接触插塞和闸极结构间,没有接触闸极短路的问题。
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申请公布号 |
TWI521644 |
申请公布日期 |
2016.02.11 |
申请号 |
TW103144808 |
申请日期 |
2014.12.22 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
江宗育;陈光鑫 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01);H01L23/48(2006.01);H01L23/485(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财;李世章 |
主权项 |
一种半导体装置,包含:一基板;一闸极结构在该基板之上,包含:一闸介电层,在该基板之上;一闸极,在该闸介电层之上;一绝缘层,在该闸极之上;以及一对间隙壁,在该闸极之两侧;一源/汲区,在该基板上与该对间隙壁相邻;一蚀刻终止层,在该对间隙壁旁且上覆该基板;一接触插塞,延伸进入该源/汲区且通过该间隙壁部分重叠该闸极结构;一保护层,在上覆该基板之该蚀刻终止层之上,且覆盖没有该接触插塞之该间隙壁旁之该蚀刻终止层;以及一层间介电层,在该保护层之上。
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |