| 发明名称 | 接触器配置、IC测试处理器及IC测试配置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种用于IC测试处理器的接触器配置，包括：接触器单元，具有用于接触测试中的IC的测试触点，且用于使所述IC暂时压抵所述测试触点；柱塞头，具有与所述IC的几何构形对应的凹陷区，使得所述IC的与所述柱塞头的上表面相邻的表面不会触及所述柱塞头表面；以及接触器单元界面，包括真空抽吸系统，所述真空抽吸系统用于主动地将所述IC吸引到所述接触器单元界面的IC接触表面，且因此将所述IC朝向所述接触器单元的所述测试触点吸引，所述IC接触表面与具有IC装置触点的所述IC的相邻表面对应。 | ||
| 申请公布号 | CN105301474A | 申请公布日期 | 2016.02.03 |
| 申请号 | CN201510381922.6 | 申请日期 | 2015.07.02 |
| 申请人 | 罗斯柯公司 | 发明人 | 麦可·库柏奈斯基;克利斯丁·瓦麦斯伯格;乔瑟夫·迈尔;雷纳·希特曼 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人 | 郑玉洁 |
| 主权项 | 一种用于IC测试处理器的接触器配置，其特征在于，包括：接触器单元，具有用于接触测试中的IC或IC群组的测试触点，且用于使所述IC暂时压抵所述测试触点；柱塞头，具有与所述IC的几何构形对应的凹陷中央区，使得所述IC的与所述柱塞头的上表面相邻的表面不会触及所述柱塞头表面；以及接触器单元界面，包括真空抽吸系统，所述真空抽吸系统用于主动地将所述IC吸引到所述接触器单元界面的IC接触表面，且因此将所述IC朝向所述接触器单元的所述测试触点吸引，所述IC接触表面与具有IC装置触点的所述IC的相邻表面对应。 | ||
| 地址 | 德国科尔贝尔莫尔市盖格尔斯坦因街6号 | ||