发明名称 |
判断一触控物接触一触控操作区的方法及其光学式触控系统 |
摘要 |
判断一触控物接触一触控操作区的方法,包括:于一触控操作区设置发光元件;于上述触控操作区设置一影像撷取装置,以撷取一触控物之影像;于上述触控操作区设置光学反射体,以将上述发光元件所发出的光反射至上述影像撷取装置;及由一影像处理装置取得上述影像后,依据上述影像取得一第一及一第二取像路径,并根据上述触控物于上述第一及第二取像路径之一第一及一第二突波讯号,取得上述触控物于上述触控操作区之一倾斜角度,并取得一对应上述倾斜角度之门槛值,比较上述第一突波讯号及上述门槛值以决定上述触控物之一触控点是否存在。
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申请公布号 |
TW201604743 |
申请公布日期 |
2016.02.01 |
申请号 |
TW103125245 |
申请日期 |
2014.07.24 |
申请人 |
纬创资通股份有限公司 |
发明人 |
邱志豪;陈裕彦 |
分类号 |
G06F3/042(2006.01) |
主分类号 |
G06F3/042(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
洪澄文;颜锦顺 |
主权项 |
一种判断一触控物接触一触控操作区的方法,上述方法包括:于一触控操作区设置复数发光元件用以发射光源;于上述触控操作区设置一影像撷取装置,用以撷取一触控物所造成之影像;于上述触控操作区设置至少一光学反射体,用以将上述发光元件所发出的光反射至上述影像撷取装置;以及藉由一影像处理装置由上述影像撷取装置取得上述影像后,依据上述影像取得一第一取像路径及一第二取像路径,并根据上述触控物于上述第一取像路径及上述第二取像路径之一第一突波讯号及一第二突波讯号,取得上述触控物于上述触控操作区之一倾斜角度,并由一储存模组中取得一对应上述倾斜角度之门槛值,比较上述第一突波讯号及上述门槛值以决定上述触控物之一触控点是否存在。
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地址 |
新北市汐止区新台五路1段88号21楼 |