发明名称 |
一种GaN基LED超晶格缓冲层结构及其制备方法 |
摘要 |
本发明提供一种GaN基LED超晶格缓冲层结构及其制备方法,通过在蓝宝石衬底上周期交替制备GaN层及Al<sub>1-x</sub>Ga<sub>x</sub>N层,形成具有超晶格结构的缓冲层,并通过控制通入的Al原子及Ga原子数目的比例控制所述Al<sub>1-x</sub>Ga<sub>x</sub>N层中Ga组分的变化,或通过控制外延GaN层及Al<sub>1-x</sub>Ga<sub>x</sub>N层的时间比例控制其厚度比,以减小外延边缘波长与中心波长的差值逐渐,使得外延中心波长与边缘波长基本一致,从而使外延波长的均匀性得到提高。本发明还可以大幅度减少后续芯片与分选流程的时间和成本,提高了最终的产品产出率。 |
申请公布号 |
CN103296161B |
申请公布日期 |
2016.01.27 |
申请号 |
CN201210051922.6 |
申请日期 |
2012.03.01 |
申请人 |
上海蓝光科技有限公司 |
发明人 |
邢志刚;彭昀鹏 |
分类号 |
H01L33/04(2010.01)I;H01L33/12(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/04(2010.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
李仪萍 |
主权项 |
一种GaN基LED超晶格缓冲层结构,其特征在于,所述超晶格缓冲层结构为由多个GaN层及多个Al<sub>1‑x</sub>Ga<sub>x</sub>N层相互交替层叠的层叠结构,其中,0.01≤x≤1,且各该Al<sub>1‑x</sub>Ga<sub>x</sub>N层中Ga组分x随层叠数的增加而递增,随着层叠数的增加,所述Al<sub>1‑x</sub>Ga<sub>x</sub>N层与所述GaN层的厚度比递增。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区芳春路400号 |