发明名称 一种反射式多离轴镜面垂向测量装置
摘要 本发明公开一种采用反射式多离轴镜面的垂向测量装置,其特征在于,包括:一光源发出的光线经过一照明光学系统后形成一测量光束,所述测量光束经过一测量光学系统,所述测量光学系统由一投影支路、待测物体和探测支路组成;所述测量光束依次经过所述投影支路的投影图形形成单元,所述投影支路的具有屈光力的离轴非球面反射镜组后到达所述待测物体表面;所述测量光束在所述待测物体表面的反射光束依次经过所述探测支路的具有屈光力的离轴非球面反射镜组和所述探测支路的投影图形接收单元后被一探测器探测,以获取所述待测物体表面的垂向信息。
申请公布号 CN105278267A 申请公布日期 2016.01.27
申请号 CN201410329371.4 申请日期 2014.07.11
申请人 上海微电子装备有限公司 发明人 王福亮;王诗华;陆侃
分类号 G03F9/00(2006.01)I 主分类号 G03F9/00(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅
主权项 一种采用反射式多离轴镜面的垂向测量装置,其特征在于,包括:一光源发出的光线经过一照明光学系统后形成一测量光束,所述测量光束经过一测量光学系统,所述测量光学系统由一投影支路、待测物体和探测支路组成;所述测量光束依次经过所述投影支路的投影图形形成单元,所述投影支路的具有屈光力的离轴非球面反射镜组后到达所述待测物体表面;所述测量光束在所述待测物体表面的反射光束依次经过所述探测支路的具有屈光力的离轴非球面反射镜组和所述探测支路的投影图形接收单元后被一探测器探测,以获取所述待测物体表面的垂向信息。
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