| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe. Das Verfahren beinhaltet den Schritt des Positionierens einer Probe räumlich zwischen einem Beleuchtungsobjektiv und einem Detektionsobjektiv, wobei die Probe mit einem optisch transparenten Medium in Kontakt steht, das einen höheren Brechungsindex aufweist als die Probe. Das Verfahren beinhaltet außerdem die Schritte des Erzeugens eines Beleuchtungslichtbündels, des Lenkens des Beleuchtungslichtbündels durch das Beleuchtungsobjektiv, das das Beleuchtungslichtbündel fokussiert, des Umlenkens des Beleuchtungslichtbündels, das das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat, mit einem Umlenkmittel derart, dass das Beleuchtungslichtbündel auf eine Grenzfläche zwischen dem optisch transparenten Medium und der Probe trifft und dort zur evaneszenten Beleuchtung der Probe totalreflektiert wird, und des Detektierens des von der Probe ausgehenden und durch das Detektionsobjektiv verlaufenden Fluoreszenzlichtes. |
