发明名称 | 叶绿素含量测量方法及装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种叶绿素含量测量方法及装置,该方法包括:采集预设样本的叶绿素含量,并根据所述预设样本的高光谱反射率数据计算对应的光谱植被指数;根据所述预设样本的叶绿素含量与对应的光谱植被指数构建待测植被的叶绿素含量与所述光谱植被指数的预测关系模型;获取待测植被的叶片和冠层的高光谱反射率数据;根据所述高光谱反射率数据,利用光谱指数算法计算待测植被的光谱植被指数;根据所述待测植被的光谱植被指数,采用预先建立的预测关系模型反演得到所述待测植被的叶绿素含量。本发明将光学遥感技术运用到叶绿素含量测量领域,可实现叶绿素含量的准确简便、快速及时地测量,对农作物长势监测、产量估算等领域具有十分重要的意义。 | ||
申请公布号 | CN105277491A | 申请公布日期 | 2016.01.27 |
申请号 | CN201510617332.9 | 申请日期 | 2015.09.24 |
申请人 | 中国农业科学院农业资源与农业区划研究所 | 发明人 | 邹金秋;陈佑启;谢锋;王利民;吴永常;杨国宝 |
分类号 | G01N21/25(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 李相雨 |
主权项 | 一种叶绿素含量测量方法,其特征在于,包括以下步骤:采集预设样本的叶绿素含量,并根据所述预设样本的高光谱反射率数据计算对应的光谱植被指数;根据所述预设样本的叶绿素含量与对应的光谱植被指数构建待测植被的叶绿素含量与所述光谱植被指数的预测关系模型;获取待测植被的叶片和冠层的高光谱反射率数据;根据所述高光谱反射率数据,利用光谱指数算法计算待测植被的光谱植被指数;根据所述待测植被的光谱植被指数,采用预先建立的预测关系模型反演得到所述待测植被的叶绿素含量。 | ||
地址 | 100081 北京市海淀区中关村南大街12号 |