| 摘要 |
근접 센서는, 하우징, 검출 평면을 따라 하우징의 외부로 광을 투사하기 위한 복수의 광 펄스 이미터, 이미터에 의해, 검출 평면 내의 반사 물체에 의해, 투사된 광의 반사를 검출하기 위한 복수의 일차 광 검출기, 이미터와 일차 검출기에 대해 배향된 복수의 일차 렌즈 - 각각의 이미터-검출기 쌍에 대해서, 물체가 검출 평면 내의 일차 세트의 포지션 중에 이미터-검출기 쌍과 관련된 이차원 포지션에 위치될 때, 이미터-검출기 쌍의 이미터에 의해 발산된 광은 일차 렌즈들 중 하나를 통과하고, 물체에 의해 반사되어, 일차 렌즈들 중 하나를 통과하여 이미터-검출기 쌍의 검출기로 되돌아옴 - 와 검출 평면 내의 물체의 위치를 계산하도록 구성되고, 함께 활성화되는 이미터-검출기 쌍을 위한 프로세서를 포함한다. |
