发明名称 波面計測方法及び装置、並びに露光方法及び装置
摘要 投影光学系の波面情報を求める波面計測方法であって、計測用レチクルのピンホールアレーから射出された光束を投影光学系に照射することと、投影光学系を通過した光束をX方向及びY方向に周期性を持ちX方向及びY方向の透過率分布が正弦波状の分布を有する回折格子に入射させることと、回折格子から発生する複数の光束による干渉縞に基づいて投影光学系POの波面情報を求めることと、を含む。回折格子を用いて得られる干渉縞に基づいて、被検光学系の波面情報を高精度に計測できる。
申请公布号 JPWO2013180187(A1) 申请公布日期 2016.01.21
申请号 JP20140518708 申请日期 2013.05.29
申请人 株式会社ニコン 发明人 大滝 桂;杉崎 克己;玄間 隆志
分类号 G01M11/02;G03F7/20;H01L21/027 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人
主权项
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