| 发明名称 | 具有自适应功率调整的测试装置与测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明关于一种具有自适应功率调整的测试方法，包括：电性连接待测元件与自动测试主机；该自动测试主机向待测元件提供时钟信号与测试数据以进行测试；监控该待测元件的功率；当待测元件的功率大于等于预定功率时，该自动测试主机使得该待测元件无法接收该时钟信号；以及当待测元件的该功率小于该预定功率时，该自动测试主机维持输出该时钟信号给该待测元件。 | ||
| 申请公布号 | CN105259491A | 申请公布日期 | 2016.01.20 |
| 申请号 | CN201510797008.X | 申请日期 | 2015.11.18 |
| 申请人 | 上海兆芯集成电路有限公司 | 发明人 | 王鹏 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R21/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I |
| 代理机构 | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人 | 张瑾 |
| 主权项 | 一种具有自适应功率调整的测试方法，其特征在于，包括：电性连接待测元件与自动测试主机；该自动测试主机向该待测元件提供时钟信号与测试数据以进行测试；监控该待测元件的功率；当该待测元件的该功率大于等于预定功率时，该自动测试主机使得该待测元件无法接收该时钟信号；以及当该待测元件的该功率小于该预定功率时，该自动测试主机维持输出该时钟信号给该待测元件。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区金科路2537号301室 | ||