一种解复用器的检验器及其检验方法

摘要

本发明公开了一种解复用器的检验器及其检验方法，主要应用于芯片设计中的功能验证，其包括：期待值生成器，采用与解复用器相同的复用数据流和寄存器数据并行接入，生成期待值；复用数据比较器，按照复用数据流的有效通道来存储数据、比较数据，并且自动输出报告信息；本发明区别于以往配置完寄存器之后输入复用数据测试流的方式，采用复用数据测试流和寄存器配置并行输入的方式，更加贴近真实使用时的环境，可以验证出复用数据测试流和寄存器配置同时输入时可能发生的错误，能够发现寄存器配置完成后，收到之前加载数据包的不可测的残留数据对于解复用器以后工作造成的影响；本发明的验证方法实现了自动验证上述测试流。

主权项

一种解复用器的检验器，应用于芯片设计中的功能验证，其特征在于，其包括：期待值生成器，采用与解复用器相同的复用数据流和与该复用数据流并行接入的寄存器数据，生成期待值；复用数据比较器，按照所述复用数据流的有效通道来存储所述期待值和所述解复用器所输出的实际值，将对所述期待值和所述实际值进行比较，并且根据比较的结果自动输出报告信息，其中，所述复用数据比较器基于稳定工作状态门限长度、所述实际值与所述期待值匹配的长度，对所述解复用器进入稳定工作状态进行判断；在稳定工作状态下，所述复用数据比较器基于通道可测状态门限长度、各个有效通道连续出现的所述实际值与期待值匹配的长度，在各个所述有效通道中判断出进入可测状态的通道。