发明名称 |
一种残差预测的确定方法及系统 |
摘要 |
本发明涉及一种残差预测的确定方法,包括以下步骤:首先对待编码图像进行预处理,得到预处理后图像;然后获取每种模式下的待比较图像;最后比较每种模式下的待比较图像与待编码图像和预处理后图像的差别,根据比较结果确定是否使用残差预测。本发明还涉及一种残差预测的确定系统,包括用于对待编码图像进行预处理,得到预处理后图像的预处理装置;用于获取每种模式下的待比较图像的获取装置;用于比较每种模式下的待比较图像与待编码图像和预处理后图像差别的比较装置。本发明在空间可伸缩编码的模式选择过程中实现了快速决定是否使用残差预测,为模式选择过程提供了极大的便利。 |
申请公布号 |
CN103124346B |
申请公布日期 |
2016.01.20 |
申请号 |
CN201110369205.3 |
申请日期 |
2011.11.18 |
申请人 |
北京大学;北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司 |
发明人 |
陈科吉;孙俊;段一舟;郭宗明 |
分类号 |
H04N19/103(2014.01)I;H04N19/157(2014.01)I;H04N19/34(2014.01)I;H04N19/176(2014.01)I;H04N19/59(2014.01)I;H04N19/85(2014.01)I |
主分类号 |
H04N19/103(2014.01)I |
代理机构 |
北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 |
代理人 |
田明;任晓航 |
主权项 |
一种残差预测的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)对待编码图像进行预处理,得到预处理后图像;所述的对待编码图像进行预处理的过程如下:先将空间较低层残差对应的像素值进行上采样,再用待编码图像像素值减去所述上采样的值;(2)获取每种残差预测模式下的待比较图像;(3)比较每种残差预测模式下的待比较图像与所述待编码图像和所述预处理后图像的差别,根据比较结果确定是否使用残差预测,如果每种残差预测模式下的待比较图像与所述待编码图像更接近,则使用残差预测,如果每种残差预测模式下的待比较图像与所述预处理后图像更接近,则不使用残差预测。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |