使用材料的透射函数而辨识材料的方法及装置

摘要

本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法，其特征在于，其包含下列步骤：-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100)，-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料，每一个达时间Δt，-计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数，-在至少两个能量区的每一个中，计算透射函数的积分，因此形成至少一个第一透射系数(α1)及第二透射系数(α2)。

主权项

一种用于特征化材料的性质的方法，其特征在于，其包含下列步骤：‑提供介于X射线光源(1)及侦测器(2)之间的此材料的至少一个样本(100)，‑使用所述X射线光源(1)使至少一个X射线放射光谱透射穿过所述材料，每一个达时间Δt，‑使用至少一个所述光谱来计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数，‑选择所述函数的N个能量带，N是大于或等于2，‑在每一能量带中，测定对应于此能量带中所述透射函数的统计规模的透射系数αi，所述统计规模是所述透射函数的积分或平均值，‑通过比较透射系数(α₁,...α_N)与标准透射系数(α_{standardmaterial1},...α_{standardmaterialN})，使用所述透射系数αi而测定所述材料的性质。