发明名称 一种基于红外成像的薄膜测厚仪
摘要 本发明公开了一种基于红外成像的薄膜测厚仪,包括光源、准直透镜、分光棱镜、参考路散射玻璃、参考路红外滤光片、参考路反射镜、测量路散射玻璃、测量路红外滤光片、测量路反射镜、半透半反分光镜、成像透镜、CCD;测量时参考物经反射镜、分光镜和成像透镜成像到CCD光敏面,被测物经反射镜和成像透镜也成像到CCD光敏面,CCD将图像传送至计算机,经图像处理后根据图像的灰度值求得被测物的厚度;如此形成双光路测量系统,避免了光源光强变化的影响;使用散射光透射成像的测量体系,避免了传统红外测厚装置中存在的干涉影响;设置具有多个局部标准厚度的参考物,该装置可以获取参考物各个局部标准厚度,从而能够更加精确地测量薄膜厚度。
申请公布号 CN103175478B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201310073337.0 申请日期 2013.03.08
申请人 华中科技大学 发明人 赵斌;曹智颖;汪琛;陈海平
分类号 G01B11/06(2006.01)I 主分类号 G01B11/06(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 曹葆青
主权项 一种基于红外成像的薄膜测厚仪,其特征在于,它由光源(1)、准直透镜(2)、分光棱镜(3)、参考路散射玻璃(4)、参考路视场光阑(6)、参考路红外滤光片(7)、参考路反射镜(8)、测量路散射玻璃(9)、测量路视场光阑(11)、测量路红外滤光片(12)、测量路反射镜(13)、半透半反分光镜(14)、成像透镜(15)和CCD(16)构成;所述准直透镜(2)、分光棱镜(3)、参考路散射玻璃(4)、参考路视场光阑(6)参考路红外滤光片(7)、参考路反射镜(8)的几何中心在水平方向位于同一轴线上,组成参考光路;所述分光棱镜(3)、测量路散射玻璃(9)、测量路视场光阑(11)、测量路红外滤光片(12)和测量路反射镜(13)的几何中心在竖直方向位于同一轴线上,组成测量光路;所述参考路反射镜(8)的反射镜与入射光呈45°夹角放置,所述测量路反射镜(13)的反射镜与入射光45°夹角放置;两光路各光学元件相对分光棱镜(3)呈对称布置,相互对称的光学元件相同;半透半反分光镜(14)的反射面与测量路反射镜(13)的反射面相同;所述半透半反分光镜(14)同时位于测量路反射镜(13)和参考路反射镜(8)的反射光路上;成像透镜(15)和CCD(16)依次位于半透半反分光镜(14)之后,光轴水平;进行测量时,被测物(10)放置于测量路散射玻璃(9)与测量路视场光阑(11)之间,参考物(5)放置于参考路散射玻璃(4)和参考路视场光阑(6)之间;光源产生的光首先经由准直透镜‑(2)准直,然后由分光棱镜‑(3)分为测量路和参考路两路;在测量路,光依次透过测量路散射玻璃(9)、被测物(10)、测量路视场光阑(11)和测量路红外滤光片(12),经测量路反射镜(13)反射后透过半透半反分光镜(14),最后透过成像透镜(15)打到CCD(16)的光敏面上;在参考路,光依次透过参考路散射玻璃(4)、参考物(5)、参考路视场光阑(6)和参考路红外滤光片(7), 经参考路反射镜(8)反射后再经半透半反分光镜(14)反射,最后透过成像透镜(15)打到CCD(16)的光敏面上,利用CCD(16)摄得的图像能够计算出被测物(10)和参考物(5)之间平均灰度级的比值,再由该比值转化得到被测物厚度值。
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