发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 明的课题是在于提升半导体装置的可靠度。 其解决手段,实施形态的特征点是在焊垫PD与拉出配线部DWU的连接部位设置倾斜部SLP的点。藉此,可抑制在藉由表面保护膜PAS来被覆焊垫PD的一部分的被覆领域发生龟裂的情形。
申请公布号 TW201603209 申请公布日期 2016.01.16
申请号 TW104110430 申请日期 2015.03.31
申请人 瑞萨电子股份有限公司 发明人 冨田和朗;竹若博基
分类号 H01L23/31(2006.01) 主分类号 H01L23/31(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项 一种半导体装置,其特征系具备矩形形状的半导体晶片,前述半导体晶片系具有:(a)沿着前述半导体晶片的端边而配置之复数的焊垫;(b)分别设在前述复数的焊垫之拉出配线部;及(c)设在各前述复数的焊垫与前述拉出配线部的连接部位之倾斜部。
地址 日本