| 发明名称 | 一种基于芯片的测试处理方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明实施例提供了一种基于芯片的测试处理方法及装置，该方法包括：在执行测试时，通过锁存器控制输出支路断开以屏蔽坏存储列的输入端口的电流，其中输出支路用于将存储列的输入端口的电流传输到输出端口；在输出端口中检测经由测试支路传输的电流，依据所检测的电流确定测试结果。因此，本发明实施例可以将芯片存储阵列中的坏列隔离，消除坏列的电流影响，从而可以精确检测输出端口的电流，确保了测试结果的准确性。 | ||
| 申请公布号 | CN105244060A | 申请公布日期 | 2016.01.13 |
| 申请号 | CN201510624841.4 | 申请日期 | 2015.09.25 |
| 申请人 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 发明人 | 苏志强;丁冲;陈立刚;谢瑞杰 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人 | 苏培华 |
| 主权项 | 一种基于芯片的测试处理方法，其特征在于，所述方法包括：在执行测试时，通过锁存器控制输出支路断开以屏蔽坏存储列的输入端口的电流，其中，所述输出支路用于将存储列的输入端口的电流传输到输出端口；在所述输出端口中检测经由测试支路传输的电流，依据所检测的电流确定测试结果。 | ||
| 地址 | 100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层 | ||