| 发明名称 | 阵列基板、显示装置及检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种阵列基板、显示装置及检测方法，涉及液晶显示领域，能够在不改变测试点的情况下完成对阵列基板中每一条栅线/数据线的检测工作，从而简化整个阵列基板的测试过程。本发明实施例的阵列基板，包括：多条栅线、多条数据线、栅线与数据线交叉定义的像素单元，至少一条数据线和/或栅线的首端设置有第一开关，设置有第一开关的数据线和/或栅线的末端设置有第二开关，第一开关均连接到用以测试数据线和/或栅线首端数据的第一测试点上，第二开关均连接到用以测试数据线和/或栅线末端数据的第二测试点上。 | ||
| 申请公布号 | CN103091918B | 申请公布日期 | 2016.01.13 |
| 申请号 | CN201310026184.4 | 申请日期 | 2013.01.18 |
| 申请人 | 北京京东方光电科技有限公司 | 发明人 | 邓立广;刘英明;段亚锋;李建 |
| 分类号 | G02F1/1362(2006.01)I;G02F1/1368(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;G09G3/36(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/1362(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
| 主权项 | 一种阵列基板，包括：多条栅线、多条数据线、所述栅线与所述数据线交叉定义的像素单元，其特征在于，至少一条所述数据线和/或所述栅线的首端设置有第一开关，设置有所述第一开关的所述数据线和/或所述栅线的末端设置有第二开关，所述第一开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线首端数据的第一测试点上，所述第二开关均连接到用以测试所述数据线和/或所述栅线末端数据的第二测试点上。 | ||
| 地址 | 100176 北京市大兴区北京市经济技术开发区西环中路8号 | ||